Hodnotenie:
Momentálne nie sú žiadne recenzie čitateľov. Hodnotenie je založené na 3 hlasoch.
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Táto kniha sa vyvinula výberom a rozšírením zo svojej predchodkyne, Praktickej skenovacej elektrónovej mikroskopie (PSEM), ktorú vydalo vydavateľstvo Plenum Press v roku 1975.
Pri vývoji tejto učebnice významne pomohla interakcia autorov so študentmi na Krátkom kurze skenovacej elektrónovej mikroskopie a röntgenovej mikroanalýzy, ktorý sa každoročne koná na Lehigh University. Materiál bol vybraný tak, aby poskytol študentovi všeobecný úvod do techník skenovacej elektrónovej mikroskopie a röntgenovej mikroanalýzy vhodný na použitie v takých oblastiach, ako je biológia, geológia, fyzika tuhých látok a materiálová veda.
Podľa formátu PSEM táto kniha poskytuje študentovi základné poznatky o (1) užívateľsky ovládaných funkciách elektrónovej optiky skenovacieho elektrónového mikroskopu a elektrónovej mikrosondy, (2) charakteristikách vzájomného pôsobenia elektrónového lúča a vzorky, (3) tvorbe a interpretácii obrazu, (4) röntgenovej spektrometrii a (5) kvantitatívnej röntgenovej mikroanalýze. Každá z týchto tém bola aktualizovaná a vo väčšine prípadov rozšírená oproti materiálu uvedenému v PSEM s cieľom poskytnúť čitateľovi dostatočné pokrytie na pochopenie týchto tém a uplatnenie informácií v laboratóriu. V celom texte sme sa snažili zdôrazniť praktické aspekty techník, pričom sme opísali tie parametre inštru- mentov, s ktorými môže a musí mikroskopista manipulovať, aby získal optimálne informácie zo vzorky.
Niektoré oblasti boli rozšírené najmä v reakcii na ich rastúci význam v oblasti SEM. Takto je podrobne spracovaná energeticky disperzná röntgenová spektrometria, ktorá zaznamenala obrovský nárast.
© Book1 Group - všetky práva vyhradené.
Obsah tejto stránky nesmie byť kopírovaný ani použitý čiastočne alebo v celku bez písomného súhlasu vlastníka.
Posledná úprava: 2024.11.13 22:11 (GMT)