Skenovacia elektrónová mikroskopia a röntgenová mikroanalýza: Tretie vydanie

Recenzie čitateľov

Kniha o skenovacej elektrónovej mikroskopii (SEM) má od používateľov prevažne pozitívne recenzie, pričom mnohí chvália jej prehľadnosť, organizáciu a komplexnosť. Je označovaná za definitívnu príručku pre začiatočníkov aj skúsených používateľov. Používatelia oceňujú ilustrácie a zrozumiteľný štýl písania, vďaka ktorému sú zložité pojmy prístupnejšie. V niektorých kritikách sa však spomína slovník a problémy so stavom niektorých získaných výtlačkov.

⬤ Dobre organizovaná a informatívna
⬤ jasný a stručný text
⬤ jednoduché používanie pre začiatočníkov aj skúsených používateľov
⬤ vynikajúce ilustrácie
⬤ komplexné pokrytie základov a techník SEM
⬤ rýchle dodanie
⬤ dobrý stav nových výtlačkov.

⬤ V niektorých recenziách sa občas spomína slovník
⬤ niekoľko výtlačkov bolo doručených v menej ako bezchybnom stave
⬤ doba dodania od spoločnosti Amazon bola dlhšia, ako sa očakávalo.

(na základe 24 čitateľských recenzií)

Pôvodný názov:

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition

Obsah knihy:

Ideálny text pre študentov aj odborníkov z praxe je komplexným úvodom do oblasti skenovacej elektrónovej mikroskopie (SEM) a röntgenovej mikroanalýzy.

Text sa použil pri vzdelávaní viac ako 3 000 študentov na krátkom kurze SEM v Lehigh, ako aj tisícov študentov bakalárskeho a magisterského štúdia na univerzitách po celom svete. Autori kladú dôraz na praktické aspekty opisovaných techník.

Rozoberané témy zahŕňajú užívateľsky ovládané funkcie skenovacích elektrónových mikroskopov a röntgenových spektrometrov a použitie röntgenového žiarenia na kvalitatívnu a kvantitatívnu analýzu. Samostatné kapitoly sa zaoberajú metódami prípravy vzoriek SEM pre tvrdé materiály, polyméry a biologické vzorky.