Úvod do spektroskopickej elipsometrie tenkovrstvových materiálov: Prístrojové vybavenie, analýza údajov a aplikácie

Pôvodný názov:

Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis, and Applications

Obsah knihy:

Jedinečný text ponúkajúci úvod do používania spektroskopickej elipsometrie na charakterizáciu nových materiálov

V knihe Úvod do spektroskopickej elipsometrie tenkovrstvových materiálov: Tím významných výskumných pracovníkov v tomto úvode podáva dôkladný výklad o tom, ako sa tradičná experimentálna technika spektroskopickej elipsometrie využíva na charakterizáciu vnútorných vlastností nových materiálov. Kniha sa zameriava na vedecky a technologicky dôležité dvojrozmerné dichalkogenidy prechodných kovov (2D-TMD), magnetické oxidy, ako sú manganitové materiály, a nekonvenčné supravodiče vrátane systémov s oxidmi medi.

Významní autori sa zaoberajú charakterizáciou vlastností, ako sú elektronické štruktúry, medzifázové vlastnosti a následná dynamika kvázičastíc v nových kvantových materiáloch. Spolu s názornými a konkrétnymi prípadovými štúdiami o tom, ako sa spektroskopická elipsometria používa na štúdium optických a kvázičasticových vlastností nových systémov, kniha obsahuje: Dôkladné úvody do základných princípov spektroskopickej elipsometrie a silne korelovaných systémov vrátane oxidov medi a manganitov Komplexné skúmanie dvojrozmerných dichalkogenidov prechodných kovov Praktické diskusie o jednovrstvových grafénových systémoch a nikelátových systémoch Hĺbkové skúmanie potenciálneho budúceho vývoja a aplikácií spektroskopickej elipsometrie

Kniha Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials je ideálna pre študentov magisterského a doktorandského štúdia fyziky a chémie a nájde si miesto aj v knižniciach tých, ktorí študujú vedu o materiáloch a hľadajú komplexnú príručku o aplikáciách spektroskopickej elipsometrie na nové vyvinuté materiály.