Úvod do hmotnostnej spektrometrie sekundárnych iónov s časom letu (Tof-Sims) a jej využitie v materiálovej vede

Recenzie čitateľov

Momentálne nie sú žiadne recenzie čitateľov. Hodnotenie je založené na 2 hlasoch.

Pôvodný názov:

An Introduction to Time-Of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (Tof-Sims) and Its Application to Materials Science

Obsah knihy:

Štúdium temnej hmoty v astrofyzike aj časticovej fyzike sa v posledných rokoch stalo jednou z najaktívnejších a najzaujímavejších tém výskumu.

Táto kniha sa zaoberá históriou objavu chýbajúcej hmoty (alebo neviditeľnej hmoty) vo vesmíre a spája ju s navrhovanými rozšíreniami štandardného modelu časticovej fyziky (ako je supersymetria), ktoré boli navrhnuté v rovnakom časovom rámci. Táto kniha je napísaná ako úvod do týchto problémov v popredí astrofyziky a časticovej fyziky s cieľom priblížiť fyziku tmavej hmoty začínajúcim študentom bakalárskeho štúdia vedných odborov.

V knihe sa ďalej opisujú existujúce a pripravované experimenty a techniky, ktoré sa budú používať na priame alebo nepriame zisťovanie tmavej hmoty.