Röntgenová difrakcia pre materiálový výskum: Od základov k aplikáciám

Recenzie čitateľov

Kniha je chválená ako vynikajúci úvodný zdroj informácií o röntgenovej difrakcii, vhodný pre vysokoškolských študentov a nových záujemcov o túto problematiku. Poskytuje dobré základné poznatky bez toho, aby čitateľa zahlcovala prílišnými matematickými alebo technickými detailmi.

Dobre sa hodí pre začiatočníkov, jasné koncepčné vysvetlenia, vyhýba sa prílišnej matematickej zložitosti, vybavuje čitateľov vhodnou terminológiou, slúži ako dobrý predstupeň pokročilejších textov.

Chýba podrobný inštrumentálny návod a pokročilé techniky analýzy údajov, ktoré si neskôr môžu vyžadovať ďalšie zdroje alebo špecializovanejšie texty.

(na základe 1 čitateľských recenzií)

Pôvodný názov:

X-Ray Diffraction for Materials Research: From Fundamentals to Applications

Obsah knihy:

Röntgenová difrakcia je užitočná a výkonná analytická technika na charakterizáciu kryštalických materiálov, ktorá sa bežne používa v MSE, fyzike a chémii. Táto nová informatívna kniha opisuje princípy röntgenovej difrakcie a jej aplikácie na charakterizáciu materiálov. Pozostáva z troch častí. Prvá sa zaoberá základnou kryštalografiou a optikou, ktorá je nevyhnutná na pochopenie teórie röntgenovej difrakcie rozoberanej v druhej časti knihy. Druhá časť opisuje, ako možno röntgenovú difrakciu použiť na charakterizáciu takých rôznych foriem materiálov, ako sú tenké vrstvy, monokryštály a prášky. Tretia časť knihy sa zaoberá aplikáciami röntgenovej difrakcie.

V knihe sa uvádza množstvo príkladov, ktoré pomôžu čitateľom lepšie pochopiť danú problematiku. X-Ray Diffraction for Materials Research: From Fundamentals to Applications tiež.

- poskytuje základné poznatky o difrakcii, aby sa s témou mohli oboznámiť aj nešpecialisti.

- zahŕňa praktické aplikácie, ako aj základný princíp röntgenovej difrakcie.

- uvádza vhodné príklady s odpoveďami, ktoré pomôžu čitateľom ľahšie pochopiť obsah.

- zahŕňa charakterizáciu tenkých vrstiev pomocou röntgenovej difrakcie s príslušnými experimentálnymi technikami.

- obsahuje veľké množstvo dôkladne nakreslených grafov, ktoré pomáhajú ilustrovať obsah.

Kniha pomôže čitateľom (študentom a výskumníkom v oblasti materiálových vied, fyziky a chémie) pochopiť kryštalografiu a kryštálové štruktúry, interferenciu a difrakciu, štruktúrnu analýzu objemových materiálov, charakterizáciu tenkých vrstiev a nedeštruktívne meranie vnútorného napätia a fázového prechodu.

Difrakcia je optický jav, a preto ju možno lepšie pochopiť, ak sa vysvetľuje pomocou optického prístupu, ktorý sa v iných knihách zanedbáva. Táto kniha pomáha vyplniť túto medzeru a poskytuje informácie na sprostredkovanie koncepcie röntgenovej difrakcie a spôsobu jej využitia pri analýze materiálov.

Táto kniha bude cennou referenčnou knihou pre výskumníkov v tejto oblasti a bude dobre fungovať ako dobrá úvodná kniha o röntgenovej difrakcii pre študentov materiálových vied, fyziky a chémie.