(Ipf)Microelectronic Reliability
Text/referencie zahŕňajúce teoretické koncepcie modelov spoľahlivosti a rozdelenia porúch až po spracovanie a testovanie GaAs mikroobvodov.
Poskytuje základné informácie o vývoji postupov zabezpečenia kvality a overovania. Niektoré nové zmeny, ktoré sa vyvíjajú s cieľom vyrovnať sa s tlakom, ktorý priniesli.