Noise Analysis and Measurement for Active Pixel Sensor Readout Methods
Vykonal sa podrobný experimentálny a teoretický výskum šumu v amorfných kremíkových (a-Si) aktívnych pixelových senzoroch (APS) v prúdovom aj napäťovom režime.
V tejto štúdii sa berie do úvahy blikanie (1/f) aj tepelný šum. Experimentálny výsledok v tomto článku kladie dôraz na výpočet odchýlky výstupného šumu.
Teoretická analýza ukazuje, že APS v napäťovom režime má výhodu oproti APS v prúdovom režime, pokiaľ ide o šum spôsobený blikaním v dôsledku fungovania procesu čítania. Experimentálne údaje sa porovnávajú s teoretickou analýzou a sú v dobrej zhode.